精密阻抗分析儀TH2838A是采用自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%的基本精度、最快達5.6ms的測試速度、20Hz-2MHz的頻率范圍及高達1GΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

精密阻抗分析儀TH2838A支持20V交流測試信號和40V直流偏置的高功率測試條件、增強的多參數(shù)列表掃描/多參數(shù)圖形分析能力將有利于用戶擴展元件全面評價的能力。

TH2838A是電子元器件設計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設計和開發(fā)以及材料（電子材料和非電子材料）的研究和開發(fā)提供了強有力的工具，以其性能可以實現(xiàn)如IEC和MIL標準的各種測試。

應用

• ■ 無源元件:
  

      電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析
  

  ■ 半導體元件:

      LED驅(qū)動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
  

  ■ 其它元件:

      印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估
  

  ■ 介質(zhì)材料:

      塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
  

  ■ 磁性材料:

      鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
  

  ■ 半導體材料:

      半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性