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KSI V450E 超聲波掃描顯微鏡可測 分層 空洞

簡要描述:KSI V450E 超聲波掃描顯微鏡可測 分層 空洞 多層可測掃描聲學(xué)顯微鏡,英文是Scanning Acoustic Microscope,也稱超聲波掃描顯微鏡,用于檢測各種器件的內(nèi)部分層、空洞、裂紋等缺陷KSI V450E 超聲波掃描顯微鏡可測 分層 空洞

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新日期:2025-11-13
  • 訪  問  量:575

詳細(xì)介紹

KSI V450E 超聲波掃描顯微鏡可測 分層 空洞
KSI V450E 超聲波掃描顯微鏡可測 分層 空洞
掃描聲學(xué)顯微鏡

掃描聲學(xué)顯微鏡,英文是Scanning Acoustic Microscope,也稱超聲波掃描顯微鏡,用于檢測各種器件的內(nèi)部分層、空洞、裂紋等缺陷。




KSI v300E 高精度掃描聲學(xué)顯微鏡

KSI V450E 超聲波掃描顯微鏡可測 分層 空洞

1) 掃描機(jī)械機(jī)構(gòu)

(1) X、Y軸都是由高精度磁懸浮直線電機(jī)驅(qū)動

(2) XY軸一次最大掃描行程范圍:300mm×300mm

(3) X、Y一次最小掃描行程范圍:0.2mm×0.2mm

(4) 最大掃描速率:2000mm/s,最大掃描加速度30m/s2

(5) XY軸掃描重復(fù)精度±0.1um

(6) Z軸是高精度自鎖步進(jìn)電機(jī),最大行程:100mm

(7) Z軸電機(jī)重復(fù)精度:± 0.25μm

2) 掃描模式

(1) 點波形(A-Scan)

(2) 縱剖掃描(B-Scan)

(3) 橫剖掃描(C-Scan)

(5) 等間隔多層橫剖掃描(X-Scan)

(6) 自定義多層橫剖掃描,可獨立設(shè)置不同層面的厚度等參數(shù)

(7) 透射掃描

(8) 順序掃描、托盤掃描、高質(zhì)量掃描、表面跟蹤掃描、全息掃描(實體掃描)

(9) 其它

3) 脈沖信號收發(fā)器和換能器

(1) 掃描工作模式:單通道工作模式

(2) 脈沖信號收發(fā)器帶寬:5MHz550MHz

(3) 總增益:150dB

4) 主要功能

(1) 測試被測工件內(nèi)部缺陷,如空洞、分層、裂縫、異物等;

(2) 掃描圖像模板功能,輕松獲得參數(shù)一致的聲學(xué)顯微圖像;

5) 其它指標(biāo)

(1) 保存圖像格式:JPG、BMP、TIFF、SAM;

(2) 最大圖像采樣像素:32000×32000像素 ,可以自定義輸入圖像分辨率或單個像素尺寸,由設(shè)備自動計算所用的圖像分辨率

6) 配置與附件清單

(1) KSI v300E主機(jī) 1

(2) 探頭: 根據(jù)實際需要,可以自由選擇共200多種探頭

① 15MHz探頭;

② 30MHz探頭;

其它約200多種探頭型號;

(3) 電腦系統(tǒng) 1

Intel酷睿i5多核處理器

128GB固態(tài)硬盤+1000GB機(jī)械硬盤

16GB內(nèi)存

227英寸顯示器

11 正版Microsoft windows 10操作系統(tǒng)(電腦內(nèi)置)

12 鍵盤和鼠標(biāo)

13 Ksi vision 主機(jī)控制掃描軟件

14 遠(yuǎn)程維修軟件

(4) 儀器其余部件如下

馬達(dá)驅(qū)動器 3個;

超聲信號發(fā)生器和接收器 1個;

大理石防震平臺;

超聲信號前置放大器 1個;

水槽 1

自動排水口 1

干手布 1

(5) 附件、耗材、易損件:

隨機(jī)附件:用戶手冊等

所有的線纜和探頭都屬于易損件,1個月內(nèi)非人為損壞可以更換。




KSI v450E 大型超高分辨超聲無損檢測儀

KSI V450E 超聲波掃描顯微鏡可測 分層 空洞



The all new KSI v450E Scanning Acoustic Microscope for DBC board, IGBT module, solar panel, multi wafer and other large sample inspections. The new v450E combines KSI’s unmatched high speed scanning and unique vibration decoupling granite design with an extra large scanning range of 450mm x 450mm. With the KSI v450E easy handling and fast evaluation of large size samples is guaranteed.



The KSI v450E Key-Features:

Extra large 450mm x 450mm scan field for DBC substrate / IGBT module / PCB

Extra thickened marble base and deepened water tank make it easier to full auto- and semi auto- the testing of DBC substrates and IGBT modules

New Highly Ergonomic, User-friendly Design with Wide Cover Opening for Easy Large Size Sample Handling

Perfectly suitable for large sample inspections including DBC, IGBT, PCB boards, solar panel, multi wafer and all other large size and standard applications



Simultaneous Multi JEDEC Tray Scanning for all standard.

All-in-one Scanning Acoustic Microscope for inspection of PCB, multiple jedec, flip chip, stacked DIE, DBC, IGBT, multi wafer, MLCC, solar cells, and other semiconductor as well as material science applications

Matchless vibration decoupling granite design and high speed linear drive with max. moving speed 2,000 mm/s, and maximum acceleration 30,000 mm/s2

Unique FCT™ (Fluid Cut Technology) Transducer



Available options:

Customer Specific Tray Fixture for all Applications (wafer, jedec, BGA‘s, DBC, IGBT, Flip Chip etc.)

Constant Coupling Liquid Quality with DI-Water Refill Unit and Water Purity Control

Elimination of Contaminations and Gas Bubbles in Coupling Liquid for Highest Picture Quality and Stable Scan-Process

Automation of Sample Positioning, Scan Process, Failure Detection, Analysis & Quantification



IP-holding GmbH, Walther-Rathenau-Str.18, 35745, Herborn, Germany.


KSI V-quattro四探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)


KSI V450E 超聲波掃描顯微鏡可測 分層 空洞

多工系統(tǒng)——4探頭超聲波掃描顯微鏡分析系統(tǒng)

四探頭系統(tǒng),同時使用4只換能器
- 最大掃描速度:2000 mm/s
- 與其它品牌相比掃描效率高30%
- 最大掃描范圍:1000mm×700mm
- 最小掃描范圍:200μm×200μm
- 帶寬:550MHz
- 最大放大倍數(shù):250倍
- 新型FCT換能器

KSI V-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)

KSI V450E 超聲波掃描顯微鏡可測 分層 空洞

雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時使用2只換能器
- 最大掃描速度:2000 mm/s
- 與其它品牌相比掃描效率高30%
- 最大掃描范圍:700mm×600mm
- 最小掃描范圍:200μm×200μm
- 帶寬:550MHz
- 最大放大倍數(shù):625倍
- 新型換能器

KSI V-Octo 八探頭大型超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)

KSI V450E 超聲波掃描顯微鏡可測 分層 空洞

大型8探頭超聲波掃描顯微鏡分析系統(tǒng)

該系統(tǒng)同時使用8只換能器,能最大限度的確??焖賵D像采集和高效能。
- 最大掃描速度:2000 mm/s
- 與其它品牌相比掃描效率高30%
- 最大掃描范圍:1000mm×700mm
- 最小掃描范圍:200μm×200μm
- 帶寬:550MHz
- 最大放大倍數(shù):250倍
- 新型換能器



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